Meranie veľkosti a distribúcie nanočastíc priamo vo vašom procese (príprava vzorky,
reaktor, homogenizácia).
- unikátny a úplne agilný analyzátor veľkosti a distribúcie veľkostí nanočastíc na báze dynamického rozptylu svetla DLS
- patentovaná konštrukcia integrujúca optimalizovaný systém DLS pomocou optického vlákna do externej meracej hlavy
- kompaktný a robustný systém pre bezkontaktné meranie in-situ
- všestranné a užívateľsky prívetivé riešenie pre rôzne konfigurácie pre monitorovanie procesov
Meracie hlavy:
- in-situ
- dual thickness controller DTC
- temperované
- na mieru
