Modulárny systém pre lokálnu elektrochémiu a charakterizáciu povrchov
Dostupné techniky
- SECM – Scanning Electrochemical Microscopy – dc-SECM a ac-SECM pre meranie lokálnej elektrochemickej aktivity
- ic-SECM – Intermittent Contact SECM – súčasné získanie informácií o lokálnej aktivite a topografii pri konštantnej vzdialenosti sondy od vzorky
- LEIS – Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy – lokálne meranie impedancie a mapovanie rozdielov impedancie povrchu
- SVET – Scanning Vibrating Electrode Technique – meranie lokálnej distribúcie prúdu nad povrchom vzorky
- SKP – Scanning Kelvin Probe – bezkontaktné mapovanie zmien Volta potenciálu povrchu
- SDC – Scanning Droplet Cell – lokálne elektrochemické a impedančné merania v kvapke elektrolytu
- OSP – Optical Surface Profiling – bezkontaktné optické meranie topografie povrchu
M470
- modulárny systém konfigurovateľný podľa konkrétnej aplikácie
- skenovací rozsah X, Y, Z: 110 × 110 × 110 mm
- minimálny krok polohovania 20 nm
- maximálna rýchlosť skenovania 10 mm/s
- presné polohovanie v uzavretej regulačnej slučke s priamym meraním polohy v osiach X, Y a Z
- možnosť kombinovať elektrochemické merania s topografickými informáciami
- široká ponuka sond, elektrochemických ciel a ďalšieho príslušenstva
- softvér Scanning Electrochemical Workstation pre riadenie meraní, automatizáciu a analýzu dát
- viac ako 40 experimentov s rôznymi variantmi merania
- systém využíva potenciostaty BioLogic a rozhranie EC-Lab®
