Leica DCM8

O produkte

Bezkontaktný stabilný HD konfokálny Leica mikroskop a interferometer s unikátnym systémom skenovania bez pohyblivých častí "Microdisplay" technológií.
Leica DCM8 kombinuje HD konfokálnu a svetelnú mikroskopiu s PSI (EPSI) a VSI interferometriou do jedného univerzálneho dual-core systému. Ultra-rýchla analýza pomocou užívateľsky orientovaného prostredia softvéru LeicaSCAN umožňuje jedným kliknutím zvoliť režim pozorovania a získať farebný a reprodukovateľný 3D sken s rozlíšením 0,1 nm za pár sekúnd. Analytický software Leica MAP rozširuje možnosti použitia Leica DCM8 v oblasti sofistikovaných analýz povrchu ako je 3D analýza povrchu a 3D metrológia, ktorá je dnes v priemysle a výskume materiálov potrebná pre optimalizáciu využitia materiálov a komponentov.
Leica DCM8 je konfigurovateľný systém, ktorý sa ľahko prispôsobí vašim vzorkám. Od reflexných povrchov až po povrchy pod priehľadnou vrstvou, ktoré vyžadujú veľké pracovné vzdialenosti, na všetky typy vzoriek máme objektívy špičkovej kvality zohľadňujúce Vaše potreby a špecifiká.
Pri veľkých vzorkách si môžete vybrať z našej ponuky nastaviteľných stĺpcov a skenovacích stolíkov.
Okrem tohto systému využíva 4 rôzne farebné LED diódy, ktoré umožňujú vybrať si tu správnu vlnovú dĺžku pre pozorovanie Vášho materiálu.

Špecifikácia:

  • Bezkontaktný 3D konfokálny mikroskop, svetelný mikroskop a interferometer v odrazenom svetle (voliteľne: spektroskopický reflektometer)
  • 3D konfokálny mikroskop so skenerom bez pohyblivých častí a vibrácií "Microdisplay" technológie, s vertikálnym rozlíšením až 2 nm, s laterálnym rozlíšením do 140 nm použitím objektívov s NA 0,95 s optimálnymi výsledkami pri povrchu s nerovnosťami do 70⁰ náklonu.
  • Rýchlosť skenovania 12,5 konfokálnych snímok za sekundu
  • 3D metóda interferometrie: Vertical Scanning Interferometry (VSI), Phase Shift Interferometry (PSI) a extended PSI (EPSI) s rozlíšením až 0,1 nm
  • 2D mikroskop s HD rozlíšením vo svetlom poli BF a tmavom poli DF
  • Zabudovaná 1,4 Mpix HD CCD kamera s veľkým zorným poľom
  • 4 LED zdroje svetla červený (630 nm), zelený (530 nm), modrý (460 nm), a biely (stred 550 nm) s životnosťou v priemere 20 000 hodín
  • Sekvenčným pulzovaním jednotlivých LED zdrojov systém zachytáva farby jednotlivo na každý pixel a tak vytvára čistý, farebne verný obraz vo vysokom rozlíšení - ekvivalent 5 Mpix
  • Jedna kompaktná jednotka s Mikrodisplay skenerom, 4 x LED zdroj RGBW a CCD kamerou bez pohyblivých častí a vibrácií
  • Možnosť umiestniť skenovaciu hlavu v rôznych polohách vertikálne i horizontálne
  • Ultra rýchly mód pre presné skladanie obrazu z viacej zorných polí "XY Topography stitching mode"
  • 6 pozičný revolver objektívov - manuálny alebo motorizovaný
  • Objektívy od 1,25x do 150x a špecializované objektívy "Single Reflectivity" (SR)
  • Skenovacie stolíky s rozsahom posuvu XY do 300 x 300 mm
  • V osi Z motorický posun do 40 m
  • Vertikálny zdvih skenovacej hlavy na stĺpiku do výšky 1 m
  • Vertikálny sken konfokálu 40 mm, PSI 20 mm, EPSi 100 mm, VSI 10 mm
  • Pre vzorky s odrazivosťou od 0,1% do 100%
  • Leica MAP s funkciami pre výpočet parametrov povrchovej textúry, výškové členenie, meranie drsnosti bezkontaktne, prierezový profil, furiérova a faraktálna analýza a mnoho ďalších (ISO 25178, EUR 15178, ISO 4287)
  • Opakovateľnosť (50x zväčšenie) konfokál/VSI: chyba = 0,003 µm (3 nm); PSI: chyba = 0,16 nm (0,00016 µm)
  • Presnosť (20x zväčšenie) s otvorenou slučkou: <3% relatívna chyba; s uzatvorenou slučkou: <20 nm chyba

Video

Na stiahnutie

Opýtajte sa nás

Odoslaním kontaktného formulára potvrdzujete, že ste si prečítali a porozumeli ste zásadám spracúvania osobných údajov prevádzkovateľom, ktoré sú dostupné TU

X Potrebujete poradiť? Dohodnúť schôdzku? Napíšte nám