XPS a Raman

Integrácia viacerých analytických techník od jedného výrobcu do jedného optimalizovaného prístrojového spojenia poskytuje - v porovnaní s inými riešeniami - nepopierateľné výhody, plynúci z dokonalého zvládnutia požiadaviek jednotlivých metód a využitia potenciálu všetkých komponentov multitechnického prístroja. Po integrácii XPS (X-ray photoelectron spectroscopy) s EDS mikrosondou (v spektrometri Escalab Xi+ ), Thermo Scientific™ prichádza s ďalšou novinkou, integráciou XPS s Ramanovým spektrometrom.

XPS a Ramanova spektroskopia sú dve populárne analytické techniky poskytujúci užitočné informácie o študovaných materiáloch. Synergia vyplývajúca z integrácie týchto dvoch techník je teraz dostupná v unikátnom spojení vysokorozlišovacieho XPS spektrometra Theta Probe s integrovaným Ramanovým spektrometrom. Integrácia XPS a Ramanovej spektrometrie umožňuje získavať materiálové informácie o vzorke z jedného bodu, so všetkými výhodami, ktoré obe metódy a oba prístroje poskytujú.

Príklad využitia tohto unikátneho spojenia XPS a Ramanovho spektrometra demonštruje nová aplikačná poznámka Thermo Scientific™ “Advantages of coincident XPS-Raman in the analysis of mineral oxides species” (AN52950, Jon Treacy, Thermo Fisher Scientific, East Grinstead, Great Britain and Robert Heintz, Thermo Fisher Scientific, Madison, USA, 2017).

Obr. 1: Aplikační poznámka Thermo Scientific™ AN52950

Obr. 1: Aplikačná poznámka Thermo Scientific™ AN52950

Obr. 2: ARXPS spektrometr Theta Probe s integrovaným Ramanovým spektrometrem

Obr. 2: ARXPS spektrometer Theta Probe s integrovaným Ramanovým spektrometrom

Aplikácia AN52950 popisuje analýzu uhličitanu vápenatého (CaCO3) a oxidu titaničitého (TiO2). Obe zlúčeniny sa môžu vyskytnúť v rôznych kryštalických formách, ktoré môžu byť ľahko rozlíšené pomocou Ramanovej spektroskopie, avšak určenie zloženia, kvantifikácia, prítomnosť prímesí zloženie prírodných vzoriek je pre Ramanovu spektroskopiu ťažké. Tento nedostatok môže byť naopak ľahko a efektívne riešený pomocou XPS. Na nasledujúcich obrázkoch sú znázornené XPS spektrá aragonitu a kalcitu a zodpovedajúce Ramanove spektrá získané z rovnakej pozície vzoriek.

Obr. 3: Přehledová XPS spektra Aragonitu a Kalcitu po nízkoenergetickém očištění povrchu argonovými klastry

Obr. 3: Porovnanie XPS spektier aragonitu a kalcitu po nízkoenergetickom očistení povrchu vzoriek argónovými klastrami

Obr. 4: Porovnání Ramanových spekter CaCO3 krystalů Aragonitu a Kalcitu

Obr. 4: Porovnanie Ramanových spektier CaCO3 kryštálov aragonitu a kalcitu

XPS spektrá ukazujú zloženie materiálu na povrchu sledovaných vzoriek. Komplementárne Ramanove spektrá ukazujú rozdiely reflektujúce odlišnosti v štruktúre dvoch materiálov. To otvára cestu k možnosti charakterizovať zmesovú vzorku alebo vytvoriť materiál s konkrétnymi vlastnosťami s istotou, že obe techniky poskytujú dáta a charakterizujú rovnakú pozíciu vzorky meranú oboma technikami.

Pre podrobný popis XPS spektrometra Theta Probe a ďalšie podrobnosti o XPS inštrumentácii od Thermo Scientific™ navštívte oficiálnu webovú stránku výrobcu XPS-simplified alebo kontaktujte odborného predajcu oficiálneho distribútora pre Českú a Slovenskú republiku PRAGOLAB s.r.o..